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普通LCR測試儀的使用方法
點擊次數:2268 更新時間:2012-09-08

普通LCR測試儀的使用方法

         用LCR測試儀來測量零部件的參數時,其關鍵問題在于測量誤差。首先是LCR測試儀本身的內部誤差,還存在各種各樣的原因,而與試樣的連接所引起的誤差,就是其中之一。由于LCR測試儀的型號不同,可能的連接方法也會有區別,在此我們整理一下五種連接方法的各自特點。一般來說,連接方法越麻煩,越能準確地進行測量。

 

廣泛的測量對象

  無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。

 

  半導體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。

 

  其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。

 

  介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。

 

  磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。

 

  半導體材料:半導體材料的介電常數,導電率和C-V特性。

 

  液晶材料:液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。

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